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真理光學(xué)粒度分析儀華麗亮相API China 2019
  • 發(fā)布日期:2019-05-15      瀏覽次數(shù):6606
    • 2019年5月8日,第82屆中國醫(yī)藥原料藥/中間體/包裝/設(shè)備交易會(API China 2019)在杭州博覽中心開幕。珠海真理光學(xué)儀器有限公司攜粒度分析儀華麗亮相,為制藥行業(yè)用戶提供粒度檢測技術(shù)方案!

       

       

      LT3600激光粒度分析儀是真理光學(xué)技術(shù)團隊基于用戶對高性能儀器的需求而開發(fā)的粒度儀,支持干濕法兩用,可以勝任更寬粒度范圍的檢測要求。LT3600加持了真理光學(xué)的衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術(shù)及偏振濾波技術(shù),測量范圍為0.02um-3600um,測量速度高達每秒10000次,測量時間典型值小于10秒,用戶無需選擇分析模式,即可在全粒徑范圍獲得可靠的粒度結(jié)果。該儀器測量時無需更換透鏡,也無需使用標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn),操作簡便,智能化程度高。

      Nanolink S900是真理光學(xué)技術(shù)團隊開發(fā)的新一代高速納米粒度分析系統(tǒng),被廣泛應(yīng)用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠束、病毒抗體、蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征。SZ900除了具備顆粒表征功能外,還能測量膠體的Zeta電位。

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