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當(dāng)前主流的粒度分布測(cè)試儀有以下幾種：激光粒度儀（光散射等效原理），庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器（小孔電阻等效原理），圖像粒度分析儀（投影面積等效原理），沉降儀（沉降速度Stocks原理）。
 

激光粒度儀量程范圍一般可達(dá)0.1-1000微米。且其測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍大，是應(yīng)用普及的粒度儀。

庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)精度高，量程范圍一般為1-250微米，由于其測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍小，測(cè)量上限和下限也不足。主要應(yīng)用在樣品為窄分布的粉體行業(yè)。

圖像粒度分析儀，量程跟配置的顯微鏡性能直接相關(guān)。其同樣存在動(dòng)態(tài)范圍小，不適合測(cè)試寬分布樣品的不足之處。但是它可以進(jìn)行顆粒形貌分析，這一特性是其*的。

沉降儀的性能特點(diǎn)與激光粒度儀近似，但是它在測(cè)量速度和量程大小上落后于激光粒度儀，目前在大多數(shù)行業(yè)都被激光粒度儀所取代了。